構造のプロセス依存性
- 温度・圧力など再現性・計測の限界
- 相変態、界面形成などの複雑性
- 冷却・固化履歴のばらつき
今日の電気・電子分野の製品は、ナノ・ミクロスケールの微細な構造に性能を依存しています。応力やひずみだけでなく、熱や湿度など過酷な環境に耐える必要もあり、シミュレーションの役割はますます重くなる傾向にあります。
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